Simulation und Bestimmung des Einflusses von Strahlung auf das Verhalten von CMOS-Bausteine hinsichtlich ihrer Strahlungshärte

Bachelor / Master Arbeit

Die Zuverlässigkeit von moderner Elektronik muss bestimmte Anforderungen erfüllen, damit die dauerhafte Funktionalität trotz Umwelteinflüssen gewährleistest werden. Diese elektronischen Bauteile werden heutzutage in vielerlei Bereiche verwendet wie z. B in der Medizintechnik, in der Luft- und Raumtechnik und in der Forschung. In diesen Anwendungsbereichen werden elektronische Komponenten in einer besonderen Umgebung betrieben, in der besonders hohe Strahlung herrscht.

Kurzbeschreibung

Die Bestimmung der maßgeblichen Eigenschaften, die das Erkennen auch anhand von Kenndaten aus Datenblättern für die Beschreibung der technologischen Prozesse erlaubt, hilft bei Ermittlung von strahlungsresistente Komponenten. Damit soll eine Reduzierung der Testzeiten und Testmargen erzielt werden, Die simulationstechnischen Untersuchungen zur Bestimmung des Einflusses der verschiedenen Strahlungsarten auf das Verhalten unterschiedlicher Bauelemente und Komponenten sowie gehäuster Komponenten hinsichtlich ihrer Strahlungshärte mit Blick auf die Identifizierung und Charakterisierung der Technologischen Parametern zur Härtung der elektronischen Bauteile.

Ansprechpartner

Dipl. -Ing. Aymen Moujbani
E-Mail: moujbani@ims.uni-hannover.de
Tel. (0511)-762-5020
Leitung: PD Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Kirsten Weide-Zaage

Verfügbarkeit

Ab 15.10.2015