Institut für Mikroelektronische Systeme Studium Studien- & Abschlussarbeiten Abgeschlossene Arbeiten
Entwurf eines Hochspannungsmesssystems zur Charakterisierung von Derating-Effekten bei MLCCs.

Entwurf eines Hochspannungsmesssystems zur Charakterisierung von Derating-Effekten bei MLCCs.

Betreuung:  Tim Kuhlmann
Student/in:  Lukas Schwengelbeck
Jahr:  2025
Datum:  03-03-25
Laufzeit:  19.03.2025 - 19.09.2025