Robustness measurement of integrated circuits and its adaptation to aging effects.

verfasst von

Martin Barke, Michael Kärgel, Markus Olbrich, Ulf Schlichtmann

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Mixed-Signal-Schaltungen

Typ

Artikel

Journal

Microelectron. Reliab.

Band

54

Seiten

1058-1065

Publikationsdatum

2014

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.1016/J.MICROREL.2014.01.012 (Zugang: Unbekannt)